- MIT.nano adicionou o difratômetro de raios X Bruker D8 Discover Plus ao seu conjunto de ferramentas de caracterização, com foco na análise de materiais em escala nanométrica.
- O equipamento utiliza uma fonte de raios X de cobre com alto brilho e foco micro (tamanho de região de medição entre 2 mm e 200 micrômetros), permitindo medir áreas pequenas de amostras de filmes finos.
- O sistema está instalado no SEF (facilidade compartilhada de difração e imaging) da área Characterization.nano, que oferece imagens 3D detalhadas e mapeamento de composição sem danificar o material.
- Entre os recursos, destaca-se a difração no plano (in-plane XRD), útil para estudos de filmes finos com orientações de grão não uniformes, especialmente após deposição na linha de fabricação.
- Além de adquirir padrões de difração, a nova instrumentação traz um conjunto de software avançado para análise de dados, com treinamento disponível para usuários.
MIT.nano ampliou seu conjunto de ferramentas de caracterização com a adição de um aparelho de difração e imageamento por raio-x (XRD): o Bruker D8 Discover Plus. O equipamento oferece uma fonte de raio-x de cobre de alto brilho e foco micro, adequado para medir áreas pequenas de amostras de filmes finos com um detector de grande área.
O sistema está instalado na SEF de difração e imageamento por raio-x, dentro do grupo Characterization.nano. Nele, pesquisadores podem inspecionar superfícies, camadas e estruturas internas sem danificar o material, gerando imagens 3D que ajudam a mapear composição e organização.
A novidade facilita a identificação de fases cristalinas, tamanho de grão e orientações cristalinas, entre outros dados. A configuração aumenta a capacidade de análise de pesquisadores em várias áreas, como eletrônica, armazenamento de energia, saúde e nanociência.
Novo equipamento e impacto
O Bruker D8 Discover Plus substitui dois aparelhos antigos na instituição, trazendo avanços tecnológicos para o MIT.nano. Entre os destaques, está a fonte de raio-x de cobre de alta riqueza de brilho, capaz de produzir feixes intensos em áreas pequenas, de 2 mm até 200 microns.
Além disso, o equipamento introduz também o modo in-plane XRD, que permite estudos de difração na superfície de filmes finos com orientações de grão não uniformes. Esse recurso é especialmente útil para projetos que começam na fabricação de filmes.
O conjunto inclui um software avançado para análise de dados, aumentando a capacidade de interpretar padrões de difração. Pesquisadores e usuários estão recebendo treinamento sobre operação do difrator e interpretação dos dados estruturais.
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